世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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RFS set扫描仪探头组包含三个无源近场探头,用于在研发阶段配合扫描仪测量电场和磁场,频率范围为30MHz~3GHz。

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前置放大器PA 306用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。它采用外接电源供电,并连接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。前置放大器的输入端通过相应的电缆与近场探头连接。

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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 203用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 203用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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射频场发射探头组由磁场探头和电场探头组成。它们用于测量集成电路的各个辐射近场。测量数据有助于根据场的类型分别评估集成电路的发射水平。测量和所有计算都是用ChipScan ESA软件进行的。

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射频场发射探头组由磁场探头和电场探头组成。它们用于测量各个近场,这些近场由运行的集成电路耦合出来。测量数据有助于根据场的类型评估集成电路的发射水平。测量和所有计算都是用ChipScan ESA软件进行的。

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P1402/P1502探头组包含磁场探头(P1402)和电场探头(P1502)各一个,通过这两个探头来测试集成电路的抗干扰性能。

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