世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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XFS-R 3-1 型磁场探头适用于近距离测量高磁场强度元器件。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。

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XFS-E 10探头是无源近场探头,通常探头直接放置在被测物体上(高电场强度)。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。

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XSF-E 09是一个无源近场探测器。测量时,电场探头位于元件和印刷电路板的上方。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。

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XFS-B 3-1是一种无源近场探头,它探测从被测物体90°发射的磁力线。

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SX-R 20-1是一个无源磁场探头,覆盖频率范围高达20GHz。

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SX-R 20-1由一个无源近场探头组成,用于在开发阶段测量电子组件和集成电路上高达20GHz的高时钟频率的磁场。

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SX-R 3-1型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。

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SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm,用于检测定位很小的电场源,例如导线、集成电路板上的单个元器件。

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SX-B 3-1是一个无源近场探头。它检测设备垂直发射的磁力线。

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SX 1近场探头组包含3个无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场,频率范围为1GHz到10GHz。

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