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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 303用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 203用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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前置放大器PA 203用于放大测试信号,例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。

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射频场发射探头组由磁场探头和电场探头组成。它们用于测量集成电路的各个辐射近场。测量数据有助于根据场的类型分别评估集成电路的发射水平。测量和所有计算都是用ChipScan ESA软件进行的。

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射频场发射探头组由磁场探头和电场探头组成。它们用于测量各个近场,这些近场由运行的集成电路耦合出来。测量数据有助于根据场的类型评估集成电路的发射水平。测量和所有计算都是用ChipScan ESA软件进行的。

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P1402/P1502探头组包含磁场探头(P1402)和电场探头(P1502)各一个,通过这两个探头来测试集成电路的抗干扰性能。

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电流探头校准夹具是用于对大电流注入探头CLCI-100、CLCI-400和电流探头CLCE-400、CLCE-452进行校准。

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PS-500是一个近场探头组,由四个探头和一个定制存储盒组成。

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