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ICR E150 set 近场微电场探头组
产品描述
主要特点
技术参数
ICR E150 set近场微探头是为高分辨率测量近场电场而设计的。使用ICR E探头可进行以下测量：1，根据IEC 61967-3，通过IC进行表面扫描。2，通过IC进行体积扫描。3，探头的测量电极水平的对准测量表面进行引脚扫描。前置放大器集成在探头外壳中，由T型偏置供电。ICR近场探头在交付前经过质量检查。执行不同的参考设置测量，并生成相应的校正线。确定了两条不同的校正线：标准化校正线和电场校正线。
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ICR E150 近场微电场探头
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