
S603及S750 set 基于IEC61967-4标准的传导发射测量
产品描述
主要特点
技术参数
该探头组用于测量1欧姆/150欧姆的传导发射,采用的是集成电路引脚上的直接耦合方法。S603探头用于电流测量,S750探头用于电压测量。S603/S750的测量结果保证了测量结果的高重复性和可比性。使用ChipScan-ESA软件进行测量,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
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