世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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XF-R 3-1型近场探头,用于高分辨率直接检测组件上,比如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器等元器件区域的射频磁场。

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XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽,用于定位最小的电场,例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。

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这种近场探头可以检测IC耦合产生的电场。

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这种近场探头可以检测IC耦合产生的电场。

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XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。

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XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头。

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RF-U 5-2型磁场探头特别适于探测宽导线、电缆、连接件、电子元器件及其连接口的磁场。这种磁场探头的工作方式类似于电流钳。

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RF-U 2.5-2型磁场探头是一个近场探头,用于检测导线、元件引脚、SMD组件和集成电路引脚中的射频电流。

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RF-R 400-1型磁场探头,由于其直径较大(25mm),因而灵敏度很高,适合在10cm以内的距离检测模块和设备。

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RF-R 50-1型磁场探头适于在约3cm距离以内测量模块、设备或电缆。这种磁场探头能够识别出大型元器件是否为潜在的干扰源。

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