世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

产品中心


EMC测试解决方案提供商


图片

名称

描述

品牌

注入探头校准夹具是大多数大电流测试程序规范要求的测试设备的一部分,该测试夹具允许用户在进行符合性测试之前快速轻松地校准注入探头。

FCC

   该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

LANGER

该探头以很高的分辨率和灵敏度来测量电场。距离被测物小于1mm时效果最佳。由于探头的尺寸非常小,它必须借助人工或自动定位系统(例如,Langer-扫描仪)来移动。

  ICR E150 set近场微探头是为高分辨率测量近场电场而设计的。

LANGER

ICI I900 L-EFT脉冲电流源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

LANGER

   ICI HH500-15 L-EFT是一个磁场源,可以布置在受测集成电路(开放式芯片)的上方。它能够产生快速瞬变脉冲(<2ns的上升时间)。通过测量磁场源实现对脉冲的监测。

LANGER

ICI E450 L-EFT脉冲电场源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC(开放式芯片)上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

LANGER

 ICI03L-EFT装置由三个发射电场、磁场和电流脉冲的不同ICI源组成。能进行高精度和非常高分辨率的集成电路分析,例如测试安全关键电路。

LANGER

 ICI 01 L-EFT磁场源将快速瞬变脉冲通过磁场耦合到集成电路中,因此可以选择性地对集成电路的某个区域进行抗干扰性测试。

LANGER

 集成电路测试系统是为测量集成电路的辐射或传导干扰而设计的。

LANGER

< 1...343536...93 > 跳转到
全部
  • 全部
  • 产品管理
  • 新闻资讯
  • 介绍内容
  • 企业网点
  • 常见问题
  • 企业视频
  • 企业图册