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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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   该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度来测量电场。距离被测物小于1mm时效果最佳。由于探头的尺寸非常小,它必须借助人工或自动定位系统(例如,Langer-扫描仪)来移动。

  ICR E150 set近场微探头是为高分辨率测量近场电场而设计的。

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ICI I900 L-EFT脉冲电流源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

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   ICI HH500-15 L-EFT是一个磁场源,可以布置在受测集成电路(开放式芯片)的上方。它能够产生快速瞬变脉冲(<2ns的上升时间)。通过测量磁场源实现对脉冲的监测。

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ICI E450 L-EFT脉冲电场源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC(开放式芯片)上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

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 ICI03L-EFT装置由三个发射电场、磁场和电流脉冲的不同ICI源组成。能进行高精度和非常高分辨率的集成电路分析,例如测试安全关键电路。

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