世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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Langer ESD 200 ps型场耦合探头组中包含的场源产生快速电场的和磁场的静电放电脉冲场(200 ps)。

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EFT场耦合探头组中包含的场源产生电场的和磁场的电快速瞬变脉冲群场。这些场可以准确地、可复现地加载在集成电路上,从而确定集成电路对电快速瞬变脉冲群场的抗干扰性。

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P1202-2型场源产生静电放电磁场。用于对集成电路进行静电放电场耦合,以确定其对静电放电场的抗干扰能力。

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该探头套件用于测量IC引脚的传导发射(采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量)。

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该探头套件用于测量IC引脚的传导发射(采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量)。

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该探头套件用于直接对单个集成电路引脚的电流和电压进行射频测量。

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P503探头组用于根据IEC 62132-4进行传导抗扰度的测量。了解其抗扰度性能数据可以实现集成电路优化。

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P501探头组用于根据IEC 62132-4进行传导抗扰度的测量。了解其抗扰度性能数据可以实现集成电路优化。

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P500探头组用于根据IEC 62132-4进行传导抗扰度的测量。

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P331-2探头组用于将ESD脉冲传导耦合到集成电路中,BPS 203脉冲电源站控制探头。

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