世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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P331 L-ESD探头组用于将ESD脉冲(200ps上升时间)传导耦合到集成电路中,BPS 203脉冲电源站控制探头。

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根据IEC 62215-3和IEC 61000-4-4,P250探头用于IC引脚脉冲抗扰度的直接接触测量。

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这组探头用于确定强电流高电压下的集成电路的抗脉冲干扰性。

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MP Scope测量套件是研发者工作台上的可移动屏蔽舱(屏蔽蓬),用于在EFT或高频检测时放置一些敏感的测量设备,如示波器、频谱分析仪等测量设备会放在屏蔽蓬内。

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MP场源校准套件用于测量频率范围高达3GHz的电场或磁场。可以测量射频场或瞬态场。MP场源校准装置用于检测LANGER公司的场源、TEM小室和集成电路带状线的场。

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静电发生器校准测量套件用于测量静电发生器放电电流的波形。此外,还可以在3GHz的频率范围内对放电电流曲线形状中的瞬态过程进行测量和可视化。

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 该静电放电测量装置是用来测量静电放电发生器的电场和磁场的。

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MP CI set耦合电感测量套件用于确定连接器和电缆的EMC特性。

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MFA-R 0.2-75探头使用其极小的探测头直接测量模块上比如IC引脚、精细导体或者最小封装的SMD器件周围的高频磁场。

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MFA-R 0.2-6探头的探测头非常小,可用于测量模块上比如IC引脚、精细导体或者最小封装的SMD器件周围的高频磁场。

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