世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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  MFA-K 0.1-30近场探头的探测头非常小,其工作原理与电流钳相同,可用于测量极精细导体或IC引脚上的电流,并能够屏蔽从侧面作用到探头的场线。

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MFA-K 0.1-12探头的探测头很小,其工作原理与电流钳相同,可用于测量精细导体或IC引脚上的电流,能够屏蔽从侧面作用到探头的场线。

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MFA 02 SET微型探头组的两个微探头可以测量磁场频率在1GHz以内的磁场,例如在信号线、SMD-元器件以及集成电路引脚上的磁场。

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MFA 01 SET探头组的分辨率高,在磁场测量方面性能优异。它可以测量频率范围在6GHz以下的磁场。如信号线、SMD元件或集成电路板的引脚。

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LFS-B 3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置电路板上时,其测量线圈直接平放在电路板的表面上。

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ICT1集成电路测试仪是Langer公司生产的集成电路测量设备的定位系统,用于在集成电路上进行自动EMC测试。

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ICS 105型集成电路扫描仪,可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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该探头以很高的分辨率和灵敏度测量磁场。距离被测物小于1mm时效果最佳。

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