世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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  ICR E150 set近场微探头是为高分辨率测量近场电场而设计的。

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ICI I900 L-EFT脉冲电流源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

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   ICI HH500-15 L-EFT是一个磁场源,可以布置在受测集成电路(开放式芯片)的上方。它能够产生快速瞬变脉冲(<2ns的上升时间)。通过测量磁场源实现对脉冲的监测。

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ICI E450 L-EFT脉冲电场源将快速瞬态脉冲耦合到测试IC(开放式芯片)上。能对集成电路的部分区域进行抗扰度测试。

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 ICI03L-EFT装置由三个发射电场、磁场和电流脉冲的不同ICI源组成。能进行高精度和非常高分辨率的集成电路分析,例如测试安全关键电路。

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 ICI 01 L-EFT磁场源将快速瞬变脉冲通过磁场耦合到集成电路中,因此可以选择性地对集成电路的某个区域进行抗干扰性测试。

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 集成电路测试系统是为测量集成电路的辐射或传导干扰而设计的。

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H4-IC set型磁场源用于生成电快速瞬变脉冲群磁场。

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FLS 106 PCB 型扫描仪的目的是方便近场探头检测电子元件组的磁场或电场。扫描仪和近场探头系列(从SX到LF)的组合可以测量频率范围为100kHz-10GHz的电场或磁场。

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FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方,借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率(50-100µm)测量。

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