世纪汇泽(苏州)检测技术有限公司

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LF-R 3型近场探头用于直接在元器件上高分辨率的测量射频磁场,例如在引脚和集成电路封装区、导线、旁路电容器等元器件。

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这种近场探头能够测量反向进入探头的环形磁场线。这类磁场线通常出现于导线、棒形结构、电缆接头和扁平单元的边缘等。

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LF-B 3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置电路板上时,其测量线圈直接平放在电路板的表面上。

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LF-U 5型磁场探头特别适合于检测宽的导线、电缆、端口、电子元件及其连接件处等产生的磁场。

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LF-B 3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。

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LF-R 400型磁场探头,因其直径(25mm)较大而具有很高的灵敏度,适合测量10cm范围以内的集成电路板和设备。

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LF 1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。

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Frankonia提供射频功率放大器,其频率范围和输出功率特别适合于敏感度测试系统的应用

FRANKONIA

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